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Date de publication
Titre
Auteur(s)
2023
Fast methods for studying the effect of electrical stress on SiO2 dielectrics in Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect transistors
Messaoud, Dhia Elhak
;
Djezzar, Boualem
;
Boubaaya, Mohamed
;
Chenouf, Amel
;
Benabdelmoumene, Abdelmadjid
;
Zatout, Boumediene
;
Zitouni, Abdelkader
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