An accurate combination of on-the-fly interface trap and threshold voltage methods for NBTI degradation extraction

	Accueil

Parcourir le dépôt par :
	Communautés et collections
	Issue Date
	Author
	Title
	Subject

Services personnalisés :
	Recevoir les nouveautés
	Espace personnel utilisateurs autorisés
	Modifier mon profil


	À propos de DSpace

Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/1177

Titre:	An accurate combination of on-the-fly interface trap and threshold voltage methods for NBTI degradation extraction
Auteur(s):	Tahanout, Cherifa Tahi, Hakim Djezzar, Boualem Benabdelmomene, Abdelmadjid Goudjil, Mohamed Nadji, Becharia
Mots-clés:	NBTI On-the-fly methods Interface trap Oxide trap Mobility degradation
Date de publication:	2014
Editeur:	Springer
Collection/Numéro:	Vol.30, N°4 (2014);pp. 415-423
URI/URL:	http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080123456789/1177
ISSN:	Print ISSN 0923-8174 , Online ISSN 1573-0727
Collection(s) :	Publications Internationales

Fichier(s) constituant ce document :

Fichier	Description	Taille	Format
An Accurate Combination of on-the-fly Interface Trap and Threshold Voltage Methods for NBTI Degradation Extraction.pdf		113,14 kB	Adobe PDF	Voir/Ouvrir

Ce site utilise l'application DSpace, Version 1.4.1 - Commentaires