DSpace
 

Recherche avancée
Accueil
 
Parcourir le dépôt par :
Communautés et collections
Issue Date
Author
Title
Subject
 
Services personnalisés :
Recevoir les nouveautés
Espace personnel
utilisateurs autorisés
Modifier mon profil
 
À propos de DSpace

Depot Institutionnel de l'UMBB >
Publications Scientifiques >
Publications Internationales >

Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2402

Titre: Low magnetic field Impact on NBTI degradation
Auteur(s): Merah, Sidi Mohammed
Nadji, B.
Tahi, H.
Mots-clés: Magnetic field
NBTI
VDMOSFET
Degradation
Magnetic fields
Double diffused MOS transistor
Life-times
Low magnetic fields
Negative bias temperature instability
VDMOS devices
Date de publication: 2015
Editeur: Elsevier
Collection/Numéro: Microelectronics Reliability/ Vol.55, N° 9–10 (2015);pp. 1460–1463
URI/URL: http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2402
ISSN: 00262714
Collection(s) :Publications Internationales

Fichier(s) constituant ce document :

Fichier Description TailleFormat
Low magnetic field Impact on NBTI degradation.pdf25,22 kBAdobe PDFVoir/Ouvrir
View Statistics

Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.

 
Valid XHTML 1.0! Ce site utilise l'application DSpace, Version 1.4.1 - Commentaires