Testable subsystems generation for fault detection and isolation using a structural matching rank algorithm testability of an electrical circuit

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Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2524

Titre:	Testable subsystems generation for fault detection and isolation using a structural matching rank algorithm testability of an electrical circuit
Auteur(s):	Alem, Said Mokhtari, Hicham Ouziala, Mahdi Benazzouz, Djamel
Mots-clés:	Analytic Redundancy Relations ARR Bipartite graph Fault Detection Isolation FDI Structural Analysis Testable subsystems
Date de publication:	2013
Collection/Numéro:	Research Journal of Applied Sciences, Engineering and Technology/ Vol.5, N°24 (2013);pp. 8657-8664
URI/URL:	http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2524
ISSN:	20407459
Collection(s) :	Publications Internationales

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