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Titre: | A new method of oxide charges densities determination using Charge-Pumping technique in MOS structures |
Auteur(s): | Bentarzi, Hamid Zitouni, Abdelkader Kribes, Youcef |
Mots-clés: | Oxide charges Charge pumping technique Bias thermal stress technique Flat-band voltage Oxide charge Mobile ionic charge density Oxide trapped charge density |
Date de publication: | 2008 |
Editeur: | World Scientific and Engineering Academy and Society |
Collection/Numéro: | WSEAS International Conference. Proceedings. Mathematics and Computers in Science and Engineering/ N°7 (2008);pp. 36-39 |
URI/URL: | http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/4584 |
ISBN: | 978-960-6766-65-7 |
Collection(s) : | Communications Internationales
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