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Date de publication	Titre	Auteur(s)
2017	Experimental investigation of NBTI degradation in power VDMOS transistors under low magnetic field	Tahi, Hakim; Tahanout, Cherifa; Boubaaya, Mohamed; Djezzar, Boualem; Merah, Sidi Mohammed; Nadji, Bacharia; Saoula, Nadia
2017	Experimental Investigation of NBTI Degradation in Power VDMOS Transistors Under Low Magnetic Field	TAHI, Hakim; Tahanout, Cherifa; BOUBAAYA, Mohamed; Djezzar, Boualem; Merah, Sidi Mohammed; Nadji, Bacharia; SAOULA, Nadia

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