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Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/1177

Titre: An accurate combination of on-the-fly interface trap and threshold voltage methods for NBTI degradation extraction
Auteur(s): Tahanout, Cherifa
Tahi, Hakim
Djezzar, Boualem
Benabdelmomene, Abdelmadjid
Goudjil, Mohamed
Nadji, Becharia
Mots-clés: NBTI
On-the-fly methods
Interface trap
Oxide trap
Mobility degradation
Date de publication: 2014
Editeur: Springer
Collection/Numéro: Vol.30, N°4 (2014);pp. 415-423
URI/URL: http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080123456789/1177
ISSN: Print ISSN 0923-8174 , Online ISSN 1573-0727
Collection(s) :Publications Internationales

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