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Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/1466

Titre: Charge-extraction technique for studying the surface-states in MOS devices
Auteur(s): Bouderbala, Rachid
Mots-clés: MOS (électronique)
Metal oxide semiconductors
Date de publication: 1992
Description: 198 p. : ill. ; 30 cm
URI/URL: http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080123456789/1466
Collection(s) :Magister

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