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Titre: Investigation and study of the electrical characteristics of anodic oxide films SiO2 annealed at various temperatures
Auteur(s): Nadji, Becharia
Mots-clés: Annealing oxidation
Fowler-Nordheim conduction
Interface states density
Electrical characterisation
MOS capacitors
Pure water
Date de publication: 2007
Editeur: Elsevier
Collection/Numéro: Journal of Materials Processing Technology/ Vol.181, N°1-3 (2007);pp. 230-234
URI/URL: http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2647
ISSN: 09240136
Collection(s) :Publications Internationales

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