DSpace À propos de l'application DSpace
 

Recherche avancée
Accueil
 
Parcourir le dépôt par :
Communautés et collections
Issue Date
Author
Title
Subject
 
Services personnalisés :
Recevoir les nouveautés
Espace personnel
utilisateurs autorisés
Modifier mon profil
 
À propos de DSpace

Depot Institutionnel de l'UMBB >
Publications Scientifiques >
Publications Internationales >

Veuillez utiliser cette adresse pour citer ce document : http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2966

Titre: Determination of atomic depth profile in ion-beam mixed bilayer systems from the Rutherford backscattering data
Auteur(s): Khalfaoui, R.
Tobbeche, S.
Mots-clés: Ion-beam mixing
Rutherford backscattering
Atomic depth profile
Date de publication: 2005
Editeur: Elsevier
Collection/Numéro: Vacuum/ Vol.78, N°2-4 (2005);pp. 341-346
URI/URL: http://dlibrary.univ-boumerdes.dz:8080/handle/123456789/2966
ISSN: 0042-207X
Collection(s) :Publications Internationales

Fichier(s) constituant ce document :

Fichier Description TailleFormat
Determination of atomic...Résumé.pdf25,75 kBAdobe PDFVoir/Ouvrir
determination of atomic.pdf358,84 kBAdobe PDFVoir/Ouvrir
View Statistics

Tous les documents dans DSpace sont protégés par copyright, avec tous droits réservés.

 
Valid XHTML 1.0! Ce site utilise l'application DSpace, Version 1.4.1 - Commentaires